二维硒化铟半导体的成像与鉴定

A夏初，俄亥俄州立大学(Ohio State University)的一个研究小组把两个2D硒化铟半导体样品送给了我的教授，让他用于研究, 但首先，晶体必须放置在各自的衬底上. 我着手创建一个成像系统，使用白光来识别各自基板上的2D晶体，因为它们太小而无法用眼睛看到. 作为初步步骤，放大成像系统, 生成图像的每像素距离是多少, was determined. 对于识别过程, 其中一个基板放置在成像平面的两轴级上, 这样就可以通过摄像头的实时信号来搜索lnSe晶体. 每个区域的照片都含有特殊的不均匀性，因此可能是晶体. 通过计算像素和应用系统的计算放大倍率, 估计了可能的晶体的大小. 然后将这些原始测量值与制造商提供的测量值进行比较, 这样就能辨认出真正的水晶了. 它的位置随后被用探测仪标记出来. 对第二个晶体样品重复了同样的过程. After identification, 我尝试用预先存在的实验收集光致发光数据，但在室温下没有观察到光谱响应, 有文献资料支持的事实. 结论是建立一个新的实验，将, among other things, 为了收集光谱数据，使样品保持低温的低温恒温器. 这个实验的构建成为我和一个研究生之间的合作项目，一直持续到秋天. 最终，我在成像和定位晶体方面的努力将使它们能够用于该小组未来对二维半导体的研究.